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掃描電子顯微鏡及X-射線能譜儀投入使用 (2004-09-06)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:2265
安鋼廣大科技工作者期盼已久的掃描電子顯微鏡和Ⅹ-射線能譜儀,于今年6月份在技術中心試驗室一次安裝調(diào)試成功后,現(xiàn)已順利通過了考核驗收并投入正常使用。 掃描電子顯微鏡是應用于材料分析科學的一種最先進的電子光學儀器,它具有制樣簡單、放大倍率連續(xù)可調(diào)、景深大、襯度高、高清晰度掃描圖像等優(yōu)點,已成為材料科學研究所不可缺少的一種高性能儀器。它利用入射電子束與試樣作用產(chǎn)生的各種電子信號并結合X-射線能譜儀,可以對各種材料進行形貌組織觀察和微區(qū)成分分析、金屬材料斷口分析和失效分析等。 我公司從荷蘭菲利浦公司購進的Quanta200掃描電子顯微鏡和從英國牛津公司購進的INCAX-射線能譜儀,具有啟動快、大樣品室、高分辨率、高放大倍數(shù)、高低真空和環(huán)境真空成像模式等性能。兩臺顯微分析儀器的順利投入使用,必將成為公司在品種開發(fā)、工藝研究和質(zhì)量攻關等科研活動中不可缺少的工具。
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